測試資源倍增 支援少量多樣生產
愛德萬測試昨(24)日正式推出T2000 AiR2X新氣冷測試系統。新款專為評估、少量多樣生產環境而設；滿足市場對小型化、高成本效益測試機與日俱增的需求；同時，與T2000測試系統相容，在維持低功耗與氣冷散熱的前提下，測試資源較前代氣冷系統T2000 AiR提升1倍。
愛德萬指出，T2000 AiR2X的問市主要在回應並滿足市場多重需求。首先是針對T6500、T7700等舊型系列將終止支援，推出的適切汰換對策；其次，新款可滿足業界對精巧型氣冷測試機持續表達升級的需求；同時，鑑於全球氣冷式SoC測試系統裝機量龐大，推出T2000 AiR2X有助愛德萬測試在持續成長的市場中，鞏固既有領先地位。
完整SoC測試解方 支援客戶創新
愛德萬測試 T2000產品部門主管足立敏明指出，新款氣冷式T2000 AiR2X與高密度、高針數V93000系統，可以建構更完整的SoC測試解方，全面涵蓋從氣冷式應用延伸到大規模數位化裝置。
足立敏明強調，T2000 AiR2X能顯著提升部署效率，簡化老舊測試平台移轉流程。同時，在相同占地面積下，測試資源容量翻倍；V93000則提供先進大型 SoC所需的高效能。兩者相輔相成，從評估到量產階段，都能有效降低 SoC導入成本與對環境的影響，有助全面支援客戶創新。
縮減量產測試時間 加快移轉導入
在技術規格方面，T2000 AiR2X 支援高彈性測試配置，可同時搭載多達 12個量測模組，涵蓋功能/掃描測試、高精密直流(DC)測試以及最高可達 320V的車用裝置高壓 DC測試；系統搭載獨特的多站點(Multisite)控制器功能，有助大幅縮短量產測試時間。
T2000 AiR2X系統內建愛德萬T2000 RECT550效能板可靈活支援多種配置；沿用 T2000程式開發環境提供統一支援架構以及可擴充模組選項。此外透過導入快速開發套件(Rapid Development Kit,RDK)，將大幅降低程式開發與除錯的工作量，加快平台移轉與導入速度。
適用廣泛 有助客戶維持競爭優勢
目前，T2000 AiR2X已展開初期裝置評估，確認適用於廣泛領域，包含工業級MCU、消費性ASIC、車用與行動裝置電池IC以及電源類比應用等。愛德萬表示，系統預計本月稍後正式上市供貨，將助力客戶在快速演進的半導體市場中維持競爭優勢。
