愛德萬MTe 功率測試高效可靠更簡單

愛德萬MTe平台。秉持可擴充測試平台傳統,採分散式運算架構,大幅提升多站點測試效率,高性能並行測試解方則可優化整體產出率;目前已行銷全球並在生產力與測試吞吐量兩方面廣獲好評。圖 / 愛德萬提供

滿足功率測試 重新定義效能效率

隨著汽車、工業、再生能源、電信與資料基礎設施等產業,在應用領域上的電動化需求持續提升,半導體製造商正致力實現更高性能、更低測試成本 (CoT)。愛德萬測試 (Advantest) 日前推出的MTe功率測試平台,可以滿足快速成長的功率半導體市場的測試需求。

愛德萬表示,MTe平台全面回應業界與市場需求,以模組化硬體架構、極佳可擴充性系統與先進數位控制,重新定義功率半導體測試的效能與效率標準;同時,這款統一具擴充性的功率半導體測試平台,可靈活用在晶圓至高階功率模組的測試。

研發到量產無縫接軌  測試更簡單 

愛德萬測試集團旗下CREA總經理 Fabio Marino強調,MTe 的設計理念,體現可擴充性、靈活彈性與永續性,可以達成讓測試變得更簡單的企業願景;統一提供客戶的測試解方,也可隨生產需求演化,助力客戶從研發到量產無縫接軌,保有高效能與高可靠性。

以愛德萬測試先進的技術基礎,在不犧牲既有效能的前提下,MTe平台大幅縮小設備佔地空間、實現最佳化資源分配,成為吸引整合元件製造商(IDM)與專業封測代工 (OSAT)廠導入的主要優勢;MTe不僅能應對新興寬能隙半導體 ,如碳化矽(SiC)、氮化鎵(GaN)的測試挑戰,也能實現數位智慧財產(IP)核心功率元件 如智慧功率模組(IPM)、整合式功率元件 (IPD)的整合,提供高頻寬擷取、閘極驅動器控制、滿足10kA的動態 與短路測試以及靈活的高壓數位功能。 

生產力與測試吞吐量 贏得好口碑

愛德萬測試表示,秉持提供可擴充測試平台的傳統,MTe採用分散式運算架構,大幅提升多站點測試效率,高性能並行測試解方則可優化整體產出率。目前,MTe平台已在全球上市,根據來自汽車與工業功率應用領域的客戶初步評價,相較傳統測試設備,MTe在生產力與測試吞吐量兩方面,都有顯著提升。

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